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- 卷 期:
47:1 1998.03[民87.03]
- 頁 次:
頁91-105
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
47:3 1998.09[民87.09]
- 頁 次:
頁45-53
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
47:3 1998.09[民87.09]
- 頁 次:
頁55-65
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- 題 名:
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- 卷 期:
5 1998.12[民87.12]
- 頁 次:
頁145-152
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- 題 名:
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- 書刊名:
- 卷 期:
40:1 1991.06[民80.06]
- 頁 次:
頁77-89
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20 1991.06[民80.06]
- 頁 次:
頁17-22
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
6 1999.12[民88.12]
- 頁 次:
頁251-263
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
6 1999.12[民88.12]
- 頁 次:
頁265-273
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
48:4 1999.12[民88.12]
- 頁 次:
頁27-37
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
18 1998.07[民87.07]
- 頁 次:
頁107-125
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
2 1999.05[民88.05]
- 頁 次:
頁134-161
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題 名:
氧化鉿薄膜之漏電流分析:Leakage Current Mechanism of HfO[feaf] Thin Film Capacitors
- 作 者:
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- 卷 期:
12 1999.06[民88.06]
- 頁 次:
頁79-89
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:1 1998.12[民87.12]
- 頁 次:
頁1-8
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:1 1998.12[民87.12]
- 頁 次:
頁9-18
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
6 1998.06[民87.06]
- 頁 次:
頁209-215
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
9 2001.05[民90.05]
- 頁 次:
頁13-25
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
9 2001.05[民90.05]
- 頁 次:
頁251-261
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
3 2000.05[民89.05]
- 頁 次:
頁260-280
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- 題 名:
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- 書刊名:
- 卷 期:
7 2000.12[民89.12]
- 頁 次:
頁259-271