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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
3 1999.10[民88.10]
- 頁 次:
頁95-114
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5 1997.06[民86.06]
- 頁 次:
頁99-107
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題 名:
氧化層厚度在矽晶元件上之研究:The Study of Oxide Thickness in the Silicon Device
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25 2002.03[民91.03]
- 頁 次:
頁621-634
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22 2011.03[民100.03]
- 頁 次:
頁153-162
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題 名:
Using Optical Level Technique to Measure Thin Film Stress:以雷射光水平技術量測薄膜的應力
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20 2010.03[民99.03]
- 頁 次:
頁137-145
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
17 2009.12[民98.12]
- 頁 次:
頁191-198