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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
33 2013.06[民102.06]
- 頁 次:
頁66-73
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題 名:
原子力顯微鏡搭配雙傾斜疊合法量測線寬之技術研究:AFM Linewidth Measurement Employing Image Stitching Method
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
35 2013.11[民102.11]
- 頁 次:
頁36-45
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題 名:
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題 名:
奈米級尺寸高密度非揮發性記憶體的挑戰:The Challenge of Non-volatile Memory in Nano Scale Rra
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20 2010.03[民99.03]
- 頁 次:
頁44-51
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20 2010.03[民99.03]
- 頁 次:
頁52-65
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題 名:
最佳化繞射式疊對誤差量測方法:Optimal Measurement for Diffraction-Based Overlay Metrology
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
16 2009.04[民98.04]
- 頁 次:
頁15-23
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題 名: