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- 題 名:
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- 卷 期:
4 民95.03
- 頁 次:
頁20-25
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- 題 名:
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- 卷 期:
32 2013.04[民102.04]
- 頁 次:
頁56-63
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- 題 名:
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- 卷 期:
30 2012.09[民101.09]
- 頁 次:
頁37-45
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題 名:
奈米粒子計量技術發展與標準粒子介紹:Development of Nanoparticle Metrology and Introduction of Standard Particle
- 作 者:
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- 卷 期:
30 2012.09[民101.09]
- 頁 次:
頁46-54
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題 名:
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題 名:
電化學成型技術製備奈米壓印模具與其應用:Electrochemical Technology Forming Nanoimprint Mold and Application
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
33 2013.06[民102.06]
- 頁 次:
頁50-56
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34 2013.09[民102.09]
- 頁 次:
頁46-53
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
35 2013.11[民102.11]
- 頁 次:
頁21-26
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題 名:
微奈米成型模具技術:Fabrication Technology for Sub-mircro Structures on Drum
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
35 2013.11[民102.11]
- 頁 次:
頁46-52
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
35 2013.11[民102.11]
- 頁 次:
頁53-58
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26 2011.09[民100.09]
- 頁 次:
頁10-20
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26 2011.09[民100.09]
- 頁 次:
頁21-26
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題 名:
使用XR與XPS分析二氧化鉿薄膜退火之膜層結構變化:Layer Structure Analysis of Thin HfO₂ Film by XR and XPS Technique
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27 2011.12[民100.12]
- 頁 次:
頁4-12
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27 2011.12[民100.12]
- 頁 次:
頁63-70
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題 名:
貴金屬奈米粒子在生醫檢測上的應用實例:Noble Metal Nanoparticles in Biomedical Analysis: Examples
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21 2010.06[民99.06]
- 頁 次:
頁44-50
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22 2010.09[民99.09]
- 頁 次:
頁7-18
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題 名:
奈米光子晶體製程精密定位平臺:Precision Positioning Stage for the Nano Photonic Crystal Processing
- 作 者:
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- 卷 期:
22 2010.09[民99.09]
- 頁 次:
頁19-27
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題 名:
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題 名:
反射儀在高深寬比矽穿孔檢測上的應用:Development of Astigmatic Pick-up Head System for Angular Measuring
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22 2010.09[民99.09]
- 頁 次:
頁49-54
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
18 2009.09[民98.09]
- 頁 次:
頁56-65
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題 名:
最佳化繞射式疊對誤差量測方法:Optimal Measurement for Diffraction-Based Overlay Metrology
- 作 者:
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- 卷 期:
16 2009.04[民98.04]
- 頁 次:
頁15-23
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題 名:
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- 題 名:
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- 卷 期:
16 2009.04[民98.04]
- 頁 次:
頁24-33