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以X射線孔隙反射儀量測薄膜孔隙率及孔徑尺寸之量測技術:Porosity and Pore Size Analysis of Porous Thin Films Evaluated by X-ray Porosimetry
張詠晴 葉育姍 何柏青 傅尉恩
臺灣奈米會刊
35 2013.11[民102.11]
頁21-26
TCI引用統計