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Determining Energy-Band Offsets of InAlAs/InGaAs Heterostructure Using Only Photoreflactance Data:光調制反射光譜術在量測砷化銦鋁/砷化銦鎵異質接面不連續性之應用
陳堯輝
臺北技術學院學報
28:2 1995.07[民84.07]
頁1-15
TCI引用統計