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評估設備維護之可用度績效--以半導體檢驗機臺為例:Evaluating Availability Performance in Equipment Maintenance--Semiconductor Testing Machine as an Example
沈育樹 江瑞媖 Shum, Yu-su; Chiang, Tui-ying;
致遠管理學院學報
1 民95.08
頁343-358
TCI引用統計