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題 名:
具有寬頻操作與高解析度之內建式抖動量測試技術:A Wide Range and High Resolution BIST Technique for Jitter Measurement
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8 2008.06[民97.06]
- 頁 次:
頁105-121
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題 名: