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可修復電子系統之故障率模式:非齊次卜以松過程:A Failure Rate Model of Repairable Electronic Systems: Nonhomogeneous Poisson Process
魏智章 張保隆 Wei, Chih-chang; Chang, Pao-long;
管理與系統
3:1 1996.01[民85.01]
頁79-94
TCI引用統計