刊名
類目
出版年
資料類型
檢索結果筆數(1)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
在搜尋的結果範圍內查詢:
全部
排序
每頁顯示
1
Integrating Artificial Neural Network with Rough Set Theory to Construct a Time-saving Model for DRAM Testing:應用混合式資料探勘模型降低隨機存取動態記憶體之測試時間
許志華 徐賢斌 Hsu, Jyh-hwa; Hsu, Hsien-pin;
管理與系統
23:4 2016.10[民105.10]
頁475-501
TCI引用統計