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以失效模式與效應分析為基的製程問題分析模式--以奈米探管背光模組為例:An Analytical Model for an FMEA-Based Manufacturing Process Problem Applied to a Carbon Nano-tube Back-Light Unit
邱創鈞 方勇盛 蔡禎騰 Chiou, Chuang-chun; Fang, Yung-sheng; Tsai, Jenteng;
科學與工程技術期刊
5:4 2009.12[民98.12]
頁1-19
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