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- 題 名:
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- 卷 期:
33:7=391 2002.07[民91.07]
- 頁 次:
頁562-566
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
33:7=391 2002.07[民91.07]
- 頁 次:
頁571-575
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
33:4=388 2002.04[民91.04]
- 頁 次:
頁330-334
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
38:10 2002.10[民91.10]
- 頁 次:
頁42-50
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:2=242 1990.02[民79.02]
- 頁 次:
頁144-148
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題 名:
評估記憶體IC預燒簡化之可行方法:The Evaluation of Burn-in Reduction Approach for Memory IC
- 作 者:
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- 卷 期:
51:3 2015.03[民104.03]
- 頁 次:
頁29-35
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題 名:
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題 名:
製造缺陷引發積體電路可靠度失效實例探討:Case Study for IC Reliability Failure Caused by Manufacturing Defects
- 作 者:
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- 卷 期:
50:10 2014.10[民103.10]
- 頁 次:
頁24-28
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題 名:
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- 題 名:
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- 書刊名:
- 卷 期:
672 2011.12[民100.12]
- 頁 次:
頁70-76
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
54:7=643 2023.07[民112.07]
- 頁 次:
頁56-61