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掃描電子顯微/X射線能譜分析法在微量證物鑑識的應用:Applications of Scanning Electron Microscopy/Energy Dispersive X-ray Spectrometry to Forensic Examination of Trace Evidence
孟憲輝 Meng, Hsien-hui;
科儀新知
33:4=186 2012.02[民101.02]
頁15-24
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