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基於機器學習之kMLLS聚類演算法及其在薄膜電子損失譜之應用:The Introduction to kMLLS Clustering and It's Applications to EELS Analysis of Thin Films
蔡任豐 張睦東 羅聖全 陳健群 Cai, Ren-fong; Chang, Mu-tung; Lo, Shen-chuan; Chen, Chien-chun;
科儀新知
222 2020.03[民109.03]
頁79-91
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