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檢索結果筆數(12)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:4=114 2000.02[民89.02]
- 頁 次:
頁60-72
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
23:5=127 2002.04[民91.04]
- 頁 次:
頁78-87
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25:2=136 2003.10[民92.10]
- 頁 次:
頁7-14
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25:2=136 2003.10[民92.10]
- 頁 次:
頁15-22
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題 名:
缺陷檢測技術在液晶顯示器製造之應用:Investigation of Defect Inspection Technology on TFT-LCD Manufacturing
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25:2=136 2003.10[民92.10]
- 頁 次:
頁23-35
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題 名:
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題 名:
低溫複晶矽製造技術之動向:The Technology of Low Temperature Polysilicon Thin Film Transistor
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24:4=132 2003.02[民92.02]
- 頁 次:
頁89-99
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
23:4=126 2002.02[民91.02]
- 頁 次:
頁5-16
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
23:4=126 2002.02[民91.02]
- 頁 次:
頁17-24
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
11:3=53 1989.11[民78.11]
- 頁 次:
頁94-102
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題 名:
AMOLED顯示器關鍵製程檢測技術:AMOLED Display Critical Manufacture Process Inspection Technology
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34:6=194 2013.06[民102.06]
- 頁 次:
頁31-40
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
29:1=159 2007.08[民96.08]
- 頁 次:
頁6-13
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
238 2024.03[民113.03]
- 頁 次:
頁90-96