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掃描式近場光學顯微鏡應用於圖形化藍寶石基板上成長的GaN薄膜之非破壞性檢測:Non-Destructive Test of GaN Thin Film Grown on Patterned Sapphire Substrates by Using Scanning Near-Field Optical Microscope
李良箴 莊佳璁 宋育泰 孫允武 Li, Liang-chen; Chuang, Chia-tsung; Sung, Yu-tai; Suen, Yuen-wuu;
科儀新知
34:3=191 2012.12[民101.12]
頁29-34
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