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散射式掃描近場光學顯微鏡一次十奈米級光學檢測:Scattering-Type Scanning Near-Field Optical Microscopy-Optical Characterization in Sub-10 Nm Scale
朱仁佑 汪天仁 張祐嘉 葉吉田 王俊凱 Chu, Jen-you; Wang, Tien-jen; Chang, You-chia; Yeh, Jyi-tian; Wang, Juen-kai;
科儀新知
29:5=163 2008.04[民97.04]
頁35-45
TCI引用統計