刊名
類目
出版年
資料類型
檢索結果筆數(1)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
在搜尋的結果範圍內查詢:
全部
排序
每頁顯示
1
非破壞性缺陷檢測技術用於矽基太陽電池與模組:Introduction of Non-Destructive Displaying Defects Technology for Silicon-Based Solar Cell and Module
彭成瑜 林福銘 黃振隆 Peng, Cheng-yu; Lin, Fu-ming; Huang, Chen-lung;
科儀新知
31:3=173 2009.12[民98.12]
頁35-42
TCI引用統計