刊名
類目
出版年
資料類型
檢索結果筆數(1)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
在搜尋的結果範圍內查詢:
全部
排序
每頁顯示
1
以奈米壓痕與穿透式電子顯微鏡分析氮化鋁鎵半導體薄膜之力學特性:Mechanical Characteristics of AIGaN Thin Films by Nanoindentation and Transmission Electron Microscopy
簡賸瑞 林亭均 楊秉豐 賴逸少 莊振益 Jian, Sheng-rui; Lin, Ting-chun; Yang, Ping-feng; Lai, Yi-shao; Juang, Jenh-yih;
科儀新知
32:5=181 2011.04[民100.04]
頁68-74
TCI引用統計