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探討氧化鎘薄膜於不同退火環境之導電型態及晶格結構變化的原因:Different Conditions of Heat Treatment on Electrical and Structural Properties of Cadmium Oxide Films
蔡佳龍 林祐仲 Tsai, Chia-lung; Lin, Yow-jon;
真空科技
24:2 2011.06[民100.06]
頁13-24
TCI引用統計