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真空製程壓力與環測溫度對HfO₂/SiO₂ 光學薄膜的影響:The Effect of Vacuum Pressure and Temperature in Environmental Test on Optical HfO₂/SiO₂ Thin Films
蔡朝坤 Tsai, Chao-kun;
真空科技
18:4 民95.02
頁52-57
TCI引用統計