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題 名:
紅外線檢測技術於印刷電路板及半導體製程上之應用:The Application of IRT Method on Prient Circuits and Semicordudor Processes
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- 卷 期:
19:4 民90.07-08
- 頁 次:
頁124-128
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題 名:
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題 名:
半導體晶圓廠氮氣工廠運轉效益分析:Analysis of Operation Performance for Semiconductor N₂Generator
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22 2008.10[民97.10]
- 頁 次:
頁15-23
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題 名:
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題 名:
Investigations in Dark Current and Photoresponse of Doped InAs/GaAs Quantum Dot Photodetector:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
18:3 民94.12
- 頁 次:
頁76-81
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22:1 2009.03[民98.03]
- 頁 次:
頁36-41