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- 題 名:
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- 書刊名:
- 卷 期:
7(上) 民91.06
- 頁 次:
頁447+449-466
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題 名:
Automatic Wafer Surface Inspection Using Gray Level Intensity Method:應用灰階強度方法於晶圓表面瑕疵自動化檢驗之研究
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- 書刊名:
- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁53-68
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
17:2 1971.06[民60.06]
- 頁 次:
頁24-36
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
13 2005.06[民94.06]
- 頁 次:
頁35-66
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22:3 1976.09[民65.09]
- 頁 次:
頁7-20
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15 2009.01[民98.01]
- 頁 次:
頁83-101