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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25 1997.06[民86.06]
- 頁 次:
頁183-205
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題 名:
Automatic Wafer Surface Inspection Using Gray Level Intensity Method:應用灰階強度方法於晶圓表面瑕疵自動化檢驗之研究
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁53-68
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
14 1986.06[民75.06]
- 頁 次:
頁57-108
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
12 1984.06[民73.06]
- 頁 次:
頁115-140
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
7 1979.05[民68.05]
- 頁 次:
頁253-282
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
6 1978.05[民67.05]
- 頁 次:
頁117-137
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
4 1976.04[民65.04]
- 頁 次:
頁221-240