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檢索結果筆數(6)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25:11=292 1999.11[民88.11]
- 頁 次:
頁288-292
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
241 2003.04[民92.04]
- 頁 次:
頁147-155
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
247 2003.10[民92.10]
- 頁 次:
頁165-174
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題 名:
X光散射術之半導體檢測應用:The Application of X-Ray Scatter in the Metrology of Semiconductor Processes
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
383 2015.02[民104.02]
- 頁 次:
頁132-140
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
33:5=382 2007.05[民96.05]
- 頁 次:
頁18-27
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題 名:
工業X光電腦斷層掃描之驗證與量測技術:Verification and Measurement Technology of Industrial X-ray Computed Tomography
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
499 2024.10[民113.10]
- 頁 次:
頁42-50
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題 名: