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檢索結果筆數(44)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
187 1998.10[民87.10]
- 頁 次:
頁144-149
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
237 2001.04[民90.04]
- 頁 次:
頁52-58
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
205 2000.04[民89.04]
- 頁 次:
頁168-174
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
29:1=330 2003.01[民92.01]
- 頁 次:
頁10-17
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
240 2003.03[民92.03]
- 頁 次:
頁222-227
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
137 1994.08[民83.08]
- 頁 次:
頁210-212
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:2=223 1994.02[民83.02]
- 頁 次:
頁120-123
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
32:4=369 民95.04
- 頁 次:
頁78-87
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題 名:
基於機器視覺之草莓成熟度辨識技術:A Vision-Based Maturity Assessments Method for Strawberry Automatic Harvesting
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
356 2012.11[民101.11]
- 頁 次:
頁136-141
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題 名:
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題 名:
半自動固晶機之機器視覺定位技術:Semi-automatic Die Bonder Machine Vision Alignment Technology
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
356 2012.11[民101.11]
- 頁 次:
頁142-144
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
39:11=460 2013.11[民102.11]
- 頁 次:
頁17-27
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
39:11=460 2013.11[民102.11]
- 頁 次:
頁28-39
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
383 2015.02[民104.02]
- 頁 次:
頁100-111
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題 名:
曲面物件瑕疵檢測簡介:Introduction to Surface Defect Detection of 3D Objects
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
352 2012.07[民101.07]
- 頁 次:
頁24-29
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題 名:
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題 名:
機器視覺用於光罩薄膜微粒檢測技術:Automatic Surface Inspection for Mask Pellicle using Machine Vision
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
374 2014.05[民103.05]
- 頁 次:
頁43-49
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題 名:
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題 名:
機器視覺為基礎之重疊草莓分割辨識技術:A Vision-Based Recognition for Overlapping Strawberry Segmentation
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
374 2014.05[民103.05]
- 頁 次:
頁50-56
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
40:1=462 2014.01[民103.01]
- 頁 次:
頁62-68
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題 名:
機器視覺於自動化組裝產線應用規劃:Plan for Automated Assembly Line Using Machine Vision
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
288 2014.03[民103.03]
- 頁 次:
頁59-69
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題 名:
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題 名:
半導體晶圓表面化學塗布均勻度檢測:Deposition Uniformity Inspection in IC Wafer Surface
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
362 2013.05[民102.05]
- 頁 次:
頁7-12
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題 名:
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題 名:
機器視覺於自動化組裝產線應用規劃:Plan for Automated Assembly Line Using Machine Vision
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
362 2013.05[民102.05]
- 頁 次:
頁34-44
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題 名: