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檢索結果筆數(20)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
225 2001.12[民90.12]
- 頁 次:
頁204-209
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
229 2002.04[民91.04]
- 頁 次:
頁114-125
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
32:4=369 民95.04
- 頁 次:
頁78-87
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
383 2015.02[民104.02]
- 頁 次:
頁118-131
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題 名:
3C組裝線之瑕疵檢測系統:The Defect Detection System for 3C Assembly Line
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
352 2012.07[民101.07]
- 頁 次:
頁9-14
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題 名:
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題 名:
太陽能晶片表面隨機紋路瑕疵檢測:Defect Detection in Solar Wafer Surfaces with Inhomogeneous Texture
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
352 2012.07[民101.07]
- 頁 次:
頁15-23
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題 名:
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題 名:
曲面物件瑕疵檢測簡介:Introduction to Surface Defect Detection of 3D Objects
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
352 2012.07[民101.07]
- 頁 次:
頁24-29
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題 名:
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題 名:
FPGA高速即時視覺檢測應用模組設計與實現:The Implementation of FPGA-based High-Speed Visual Inspection Module
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
353 2012.08[民101.08]
- 頁 次:
頁7-15
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
40:1=462 2014.01[民103.01]
- 頁 次:
頁62-68
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
39:6=455 2013.06[民102.06]
- 頁 次:
頁7-19
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
39:6=455 2013.06[民102.06]
- 頁 次:
頁52-63
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題 名:
半導體晶圓表面化學塗布均勻度檢測:Deposition Uniformity Inspection in IC Wafer Surface
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
362 2013.05[民102.05]
- 頁 次:
頁7-12
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
42:7=492 2016.07[民105.07]
- 頁 次:
頁34-40
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
340 2011.07[民100.07]
- 頁 次:
頁3-10
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
89 2024.04[民113.04]
- 頁 次:
頁13-21
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
91 2024.06[民113.06]
- 頁 次:
頁17-33
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34:8=397 2008.08[民97.08]
- 頁 次:
頁30-46
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34:5=394 2008.05[民97.05]
- 頁 次:
頁40-48
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
485 2023.08[民112.08]
- 頁 次:
頁41-49