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檢索結果筆數(4)。
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題 名:
儀器分析簡介--穿透式電子顯微鏡:Transmission Electron Microscopy
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作者:
蔡國良
- 書刊名:
標準與檢驗
- 卷 期:
33 2001.09[民90.09]
- 頁 次:
頁13-27
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題 名:
奈米尺度量測儀器「原子力顯微鏡」簡介:
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作者:
方冠權
- 書刊名:
標準與檢驗
- 卷 期:
61 2004.01[民93.01]
- 頁 次:
頁75-79
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題 名:
膜厚檢驗技術簡介:
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作者:
廖建源
- 書刊名:
標準與檢驗
- 卷 期:
110 2008.02[民97.02]
- 頁 次:
頁16-21
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題 名:
卜特蘭水泥總添加物項目(飛灰、推估法、光學顯微鏡法)檢驗技術改進探討:
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作者:
林瑞陽
何信輝
陳成碩
蔡修裕
- 書刊名:
標準與檢驗
- 卷 期:
201 2017.05[民106.05]
- 頁 次:
頁38-51
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