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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
7(上) 民91.06
- 頁 次:
頁447+449-466
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題 名:
Automatic Wafer Surface Inspection Using Gray Level Intensity Method:應用灰階強度方法於晶圓表面瑕疵自動化檢驗之研究
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- 書刊名:
- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁53-68
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
30 2009.12[民98.12]
- 頁 次:
頁78-87
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15 2009.01[民98.01]
- 頁 次:
頁83-101
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
40 2019.12[民108.12]
- 頁 次:
頁123-138