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奈米材料之X光吸收光譜檢測與分析:Investigation and Characterization of Nanocrystalline Materials by X-ray Absorption Spectoscopy
李明宗 林中魁 林鴻明 鍾清枝 Lee, M. T.; Lin, C. K.; Lin, H. M.; Tsung. T. T.;
材料科學與工程
36:2 2004.06[民93.06]
頁125-129
TCI引用統計