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Impact on W-Polycide Gated MOSFET with NO or ONO Gate Dielectric under Hot-Carrier Stress:具有氮氧化物介電層及鎢矽閘極的金氧半場效電晶體在熱載子應力下之影響
陳啟文 Chen, Chii-wen;
明新學報
17 民85.11
頁25-35
TCI引用統計