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題 名:
A Power Constrained Monitoring Scheme for SoC Testing:功率限制下系統晶片測試之監控系統
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
18 2003.12[民92.12]
- 頁 次:
頁115-125
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
18 2010.12[民99.12]
- 頁 次:
頁195-202
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
40 2020.12[民109.12]
- 頁 次:
頁25-59
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
40 2020.12[民109.12]
- 頁 次:
頁87-99
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
48 2020.12[民109.12]
- 頁 次:
頁39-54
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
40 2020.12[民109.12]
- 頁 次:
頁95-103
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
40 2020.12[民109.12]
- 頁 次:
頁175-182
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
29:2 2020.12[民109.12]
- 頁 次:
頁99-129
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
28:1 2021.02[民110.02]
- 頁 次:
頁12-32