刊名
類目
出版年
資料類型
檢索結果筆數(1)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
在搜尋的結果範圍內查詢:
全部
排序
每頁顯示
1
Utilization of Bayesian Reliability Theory on the Investigation of IC Handler Machine Preventive Maintenance Timing in Semiconductor Testing House:運用貝氏可靠性理論於半導體測試廠IC分類機臺預防保養時機之研究
吳鑄陶 郭晉源 Wu, Chu Tao; Kuo, Jun Yuan;
數據分析
2:3 2007.06[民96.06]
頁123-138
TCI引用統計