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題 名:
電容器外殼針孔缺陷成因分析:Clarification of the Cause of Pin-hole Defect in Capacitor Cases
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
33:4=245 2008.12[民97.12]
- 頁 次:
頁63-71
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題 名: