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以臨界角法結合CCD影像擷取技術作表面形貌量測之研究:Three Dimensional Profile Measurement Based on the Critical Angle Method and the Use of a CCD Camera
邱銘宏 林振勤 詹遠生 Chiu, Ming-hung; Lin, Zhen-chin; Chan, Yuan-sheng;
技術學刊
25:3 2010.09[民99.09]
頁245-249
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