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檢索結果筆數(7)。
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題 名:
技術鑑價在科技發展的重要性:
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作 者:
林宏六
- 書刊名:
工業財產權與標準
- 卷 期:
69 1998.12[民87.12]
- 頁 次:
頁13-16
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被引用次數:期刊(0) 博士論文(0) 專書(0) 專書論文(0)
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題 名:
專利迴避設計與侵害鑑定:
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作 者:
蔡坤財
- 書刊名:
工業財產權與標準
- 卷 期:
55 1997.10[民86.10]
- 頁 次:
頁1-12
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被引用次數:期刊(0) 博士論文(0) 專書(0) 專書論文(0)
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題 名:
專利侵害鑑定基準:
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編 次:
8
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作 者:
專利處資料
- 書刊名:
工業財產權與標準
- 卷 期:
49 1997.04[民86.04]
- 頁 次:
頁50-63
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被引用次數:期刊(0) 博士論文(0) 專書(0) 專書論文(0)
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共同引用:0
點閱:0
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題 名:
專利侵害鑑定基準:
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編 次:
9
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作 者:
專利處資料
- 書刊名:
工業財產權與標準
- 卷 期:
50 1997.05[民86.05]
- 頁 次:
頁52-56
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被引用次數:期刊(0) 博士論文(0) 專書(0) 專書論文(0)
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題 名:
對專利侵害鑑定基準一些閱後心得:
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編 次:
中
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作 者:
洪瑞章
- 書刊名:
工業財產權與標準
- 卷 期:
50 1997.05[民86.05]
- 頁 次:
頁57-79
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被引用次數:期刊(0) 博士論文(0) 專書(0) 專書論文(0)
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題 名:
符合性評鑑[Conformity Assessment]制度:
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作 者:
蔡竹根
- 書刊名:
工業財產權與標準
- 卷 期:
45 1996.12[民85.12]
- 頁 次:
頁109-114
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被引用次數:期刊(0) 博士論文(0) 專書(0) 專書論文(0)
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題 名:
符合性評鑑體系之研究:
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作 者:
樊國紀
- 書刊名:
工業財產權與標準
- 卷 期:
32 1995.11[民84.11]
- 頁 次:
頁107-116
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被引用次數:期刊(0) 博士論文(0) 專書(0) 專書論文(0)
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