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製作非揮發性記憶體之BiFeO₃薄膜表面粗糙度快速光學檢測系統研發:Rapid Optical Measurement of Surface Roghness of BiFeO₃ Films for Nonvolatile Memory Application
郭啟全 趙金聖 Kuo, C. C.; Chao, C. S.;
工業材料
285 2010.09[民99.09]
頁169-178
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