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考慮製程能力指標之允收抽樣計劃:Acceptance Sampling Plans Based on Capability Indices
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:1 1998.01[民87.01]
- 頁 次:
頁95-102
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題 名:
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題 名:
應用兩檢驗員進行分工檢驗之研究:A Study of Two Inspectors Division Inspection
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
4:1 2002.05[民91.05]
- 頁 次:
頁9-19
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題 名:
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題 名:
球格陣列(BGA)基板表面瑕疵檢測:A Non-Referential Machine Vision Approach for BGA Substrate Inspection
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:2 2003.03[民92.03]
- 頁 次:
頁125-138
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題 名:
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題 名:
運用CAIP於基板設計之檢測:Using CAIP for Inspection of Substrate Design
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:2 2003.03[民92.03]
- 頁 次:
頁169-176
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題 名:
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題 名:
Economic Specification Limits under the Inspection Error:考量檢驗誤差之經濟規格界限設定
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:1 2003.01[民92.01]
- 頁 次:
頁9-12
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
12:3 1995.07[民84.07]
- 頁 次:
頁225-234
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
29:6 2012.09[民101.09]
- 頁 次:
頁427-433
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題 名:
A Novel Quasi-Contact Lens Auto-Inspection System:隠形眼鏡乾片之自動檢測系統
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:4 2010.07[民99.07]
- 頁 次:
頁260-269
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:4 2010.07[民99.07]
- 頁 次:
頁304-315
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:2 2004.03[民93.03]
- 頁 次:
頁121-135
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題 名:
Group Acceptance Sampling Plans for Resubmitted Lots under Exponentiated Half Logistic Distribution:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
33:2 2016.03[民105.03]
- 頁 次:
頁114-122
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
33:1 2016.01[民105.01]
- 頁 次:
頁51-59
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
31:4 2014.06[民103.06]
- 頁 次:
頁(3)1-(3)7
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25:5 2008.09[民97.09]
- 頁 次:
頁389-398
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題 名:
Optimal Inspection Policy for CSP-T with Return Cost Using GERT:利用網圖評核術構建具退貨成本的CSP-T之最佳檢驗政策
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25:6 2008.11[民97.11]
- 頁 次:
頁446-456
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題 名:
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題 名:
An Optimal Policy for CSP-1 with Inspection Errors and Return Cost:具退貨成本與檢驗誤差的CSP-1之最佳檢驗政策
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26:1 2009.01[民98.01]
- 頁 次:
頁70-76
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題 名:
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題 名:
晶圓良率損失資料分群模式之研究:A Data Clustering Model for Wafer Yield Loss in Semiconductor Manufacturing
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:4 2004.07[民93.07]
- 頁 次:
頁328-338
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題 名:
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題 名:
IC元件X、Y平面及Z方向置放良率分析:The Placement Yield Analysis for IC Components in the X-Y Plane and Z Direction
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:4 2004.07[民93.07]
- 頁 次:
頁339-348
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題 名:
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題 名:
動態X光影像強化與瑕疵分類之研究:Study of Dynamic X-Ray Image Enhancement and Defects Classification
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:4 2004.07[民93.07]
- 頁 次:
頁409-421
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題 名: