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題 名:
應用製程能力弱度指標C抅抅評估有目標值 T 之製程能力:A Practical Implementation of the Incapability Index C抅抅
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
16:4 1999.07[民88.07]
- 頁 次:
頁519-531
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題 名:
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題 名:
Capability Indices for Processes with Asymmetric Tolerances:非對稱規格區間的製程能力指標
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24:5 2001.09[民90.09]
- 頁 次:
頁559-568
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題 名:
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題 名:
晶圓針測廠排程演算法之設計:Algorithms for the Wafer Probing Scheduling Problem (WPSP)
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
17:3 2000.05[民89.05]
- 頁 次:
頁321-329
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
28:6 2011.09[民100.09]
- 頁 次:
頁411-424
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22:2 民94.03
- 頁 次:
頁119-133