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以T[feb4]統計量為基礎之小波特徵多變量處理模式應用於表面瑕疵之檢測:A T[feb4] Statistics Based Wavelet Characteristic Multivariate Processing Model Applied to Automated Inspection of Surface Defects
林宏達 陳志松 Lin, Hong-dar; Chen, Chih-sung;
工業工程學刊
21:2 2004.03[民93.03]
頁121-135
TCI引用統計