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臨場穿透式電子顯微鏡分析於成長矽鍺異質介面奈米線之應用:In-situ Transmission Electron Microscopy Studies of the Growth of Si-Ge Heterojunction Nanowires
溫政彥
奈米通訊
19:4 2012.12[民101.12]
頁2-8
TCI引用統計