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A Powerful Electrical Probing Method to Detect the Kink Effect of MOSFET Devices:一種強有力的電子量測法以偵測場效電晶體元件的捲縮效應
王木俊 陳厚銘 蔡政村 陳永珍 呂良德 Wang, Mu-chun; Chen, Hou-ming; Tsai, Cheng-tsun; Chen, Yung-chen; Lu, Liang-te;
大葉學報
13:1 2004.06[民93.06]
頁23-27
TCI引用統計