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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:4=108 1999.02[民88.02]
- 頁 次:
頁68-71
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:1=105 1998.08[民87.08]
- 頁 次:
頁74-81
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
17:4=90 1996.02[民85.02]
- 頁 次:
頁39-56
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
17:4=90 1996.02[民85.02]
- 頁 次:
頁73-85
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:4=114 2000.02[民89.02]
- 頁 次:
頁91-100
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
23:3=125 2001.12[民90.12]
- 頁 次:
頁96-103
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22:5=121 2001.04[民90.04]
- 頁 次:
頁8-19
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:6=116 2000.06[民89.06]
- 頁 次:
頁66-71
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:6=116 2000.06[民89.06]
- 頁 次:
頁81-85
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
19:3=101 1997.12[民86.12]
- 頁 次:
頁41-48
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
19:4=102 1998.02[民87.02]
- 頁 次:
頁77-85
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
17:6=92 1996.06[民85.06]
- 頁 次:
頁81-85
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24:5=133 2003.04[民92.04]
- 頁 次:
頁37-43
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題 名:
非破壞性檢測新助手--掃瞄式聲波顯微鏡:New Helper of Nondestructive Measurement: Scanning Acoustic Microscope
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24:2=130 2002.10[民91.10]
- 頁 次:
頁73-79
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
23:6=128 2002.06[民91.06]
- 頁 次:
頁30-38
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題 名:
缺陷檢測技術在液晶顯示器製造之應用:Investigation of Defect Inspection Technology on TFT-LCD Manufacturing
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25:2=136 2003.10[民92.10]
- 頁 次:
頁23-35
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25:2=136 2003.10[民92.10]
- 頁 次:
頁83-94
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22:1=117 2000.08[民89.08]
- 頁 次:
頁30-42
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22:1=117 2000.08[民89.08]
- 頁 次:
頁75-88