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題 名:
氧化鉿薄膜之漏電流分析:Leakage Current Mechanism of HfO[feaf] Thin Film Capacitors
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
12 1999.06[民88.06]
- 頁 次:
頁79-89
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
13 1999.04[民88.04]
- 頁 次:
頁113-122
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題 名:
Growth of Highly C-axis Oriented AlN Films on GaAs Substrates:在砷化鎵基板上沈積高C軸排向氮化鋁薄膜
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
12 1998.05[民87.05]
- 頁 次:
頁127-141
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8 2001.09[民90.09]
- 頁 次:
頁97-102
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8 2001.09[民90.09]
- 頁 次:
頁267-272
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
10 1996.01[民85.01]
- 頁 次:
頁71-80
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
13 2010.05[民99.05]
- 頁 次:
頁(B3)1-(B3)8
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題 名:
二氧化鈦電阻式記憶體之特性:Characteristics of TiO₂ Resistive Random Access Memory
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
36:1 2011.04[民100.04]
- 頁 次:
頁25-34
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
37 2017.12[民106.12]
- 頁 次:
頁56-73