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Utilizing a CNN-SVM with Transfer Learning for Automatic Defect Classification:應用卷積神經網路-支持向量機和遷移學習於自動缺陷判別
顏瑋辰 蘇朝墩 薛友仁 Yen, Wei-chen; Su, Chao-ton; Shiue, Yeou-ren;
品質與效率學刊
創刊號 2023.03[民112.03]
頁1-20
TCI引用統計