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檢索結果筆數(5)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
38:10 2002.10[民91.10]
- 頁 次:
頁42-50
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題 名:
評估記憶體IC預燒簡化之可行方法:The Evaluation of Burn-in Reduction Approach for Memory IC
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
51:3 2015.03[民104.03]
- 頁 次:
頁29-35
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題 名:
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題 名:
製造缺陷引發積體電路可靠度失效實例探討:Case Study for IC Reliability Failure Caused by Manufacturing Defects
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
50:10 2014.10[民103.10]
- 頁 次:
頁24-28
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
14:7 1978.07[民67.07]
- 頁 次:
頁20-22
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
18:11 1982.11[民71.11]
- 頁 次:
頁10-15+24