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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34:12 1998.12[民87.12]
- 頁 次:
頁46-49
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
37:3 2001.03[民90.03]
- 頁 次:
頁89-90
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:11=316 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁392-395
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24:6=275 1998.06[民87.06]
- 頁 次:
頁412-424
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
23:9=266 1997.09[民86.09]
- 頁 次:
頁327-337
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
38:10 2002.10[民91.10]
- 頁 次:
頁29-30
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
38:10 2002.10[民91.10]
- 頁 次:
頁31-37
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
38:10 2002.10[民91.10]
- 頁 次:
頁38-41
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
29:7=336 2003.07[民92.07]
- 頁 次:
頁50-62
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
29:7=336 2003.07[民92.07]
- 頁 次:
頁92-103
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
28:9=326 2002.09[民91.09]
- 頁 次:
頁38-53
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
28:8=325 2002.08[民91.08]
- 頁 次:
頁122-134
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
31:2=355 2005.02[民94.02]
- 頁 次:
頁82-84
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題 名:
Automatic Wafer Surface Inspection Using Gray Level Intensity Method:應用灰階強度方法於晶圓表面瑕疵自動化檢驗之研究
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁53-68
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題 名:
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題 名:
羅吉斯迴歸在半導體製程分析上之應用:An Application of Logistic Regression Method for Semiconductor Process Analysis
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁91-105
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題 名:
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題 名:
半導體製程能力分析之研究:Study of Process Capability in Semiconductor Manufacturing
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁153-169
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
31:5=358 2005.05[民94.05]
- 頁 次:
頁8-16
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
31:5=358 2005.05[民94.05]
- 頁 次:
頁48-54
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
31:5=358 2005.05[民94.05]
- 頁 次:
頁104-113
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
31:5=358 2005.05[民94.05]
- 頁 次:
頁114-123