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- 題 名:
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- 卷 期:
36:5 2000.05[民89.05]
- 頁 次:
頁58-60
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
30:9 1994.09[民83.09]
- 頁 次:
頁46-53
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題 名:
電腦監視器之品質診斷專家系統研究:The Study of Quality Diagnosis Expert System for Computer Monitor
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
7:2 民89.12
- 頁 次:
頁1-25
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題 名:
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題 名:
單邊規格下產品損失函數之研究:A Study of Loss Functions for Unilateral Product Specifications
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:1 民90.06
- 頁 次:
頁39-66
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題 名:
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題 名:
Automatic Wafer Surface Inspection Using Gray Level Intensity Method:應用灰階強度方法於晶圓表面瑕疵自動化檢驗之研究
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁53-68
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題 名:
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題 名:
羅吉斯迴歸在半導體製程分析上之應用:An Application of Logistic Regression Method for Semiconductor Process Analysis
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁91-105
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:1 民87.06
- 頁 次:
頁135-152
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題 名:
產品包含兩不相同組件之貝氏檢驗模式:Bayesian Inspection Sampling Models for A Product Containing Two Distinct Parts
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
2:1 民84.05
- 頁 次:
頁19-41
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
42:2 民95.02
- 頁 次:
頁38-42
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
41:10 民94.10
- 頁 次:
頁53-56
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
41:10 民94.10
- 頁 次:
頁57-62
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
41:10 民94.10
- 頁 次:
頁63-65
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
41:11 民94.11
- 頁 次:
頁73-78
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
41:9 民94.09
- 頁 次:
頁32-37
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
12:2 民94.06
- 頁 次:
頁89-100
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25:9 1989.09[民78.09]
- 頁 次:
頁16-31
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26:2 1990.02[民79.02]
- 頁 次:
頁11-21
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26:2 1990.02[民79.02]
- 頁 次:
頁33-51
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
7:3 1988.03[民77.03]
- 頁 次:
頁37-40