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An ARL-unbiased Approach to Setting Control Limits of CCC-r Chart for High-Yield Processes:監控高產出製程之CCC-r管制圖管制界限最佳化之研究
陳佩雯 鄭春生 Chen, Pei-wen; Cheng, Chuen-sheng;
品質學報
17:6 2010.12[民99.12]
頁435-452
TCI引用統計