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機器視覺之馬可夫算程--半導體銲線製程之應用:Markovian Algorithms for the Gray Thresholding of Machine Vision in IC Wire-Bonding Process
陳文魁 蔡裕正 Chen, Wen-kuei; Tsai, Yu-cheng;
品質學報
13:1 民95.03
頁1-10
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